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  • UHV美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)
    美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)

    美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng):UHV 除了表面分析組件外,LK Technologies還專門設(shè)計和構(gòu)建完整的特高壓系統(tǒng),這些系統(tǒng)通常結(jié)合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。

    更新時間:2024-12-10型號:UHV訪問量:692
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  • TDS1000美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀
    美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀

    美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀TDS1000 我們的TDS1000是一個集成的系統(tǒng)工具,使用戶能夠以高靈敏度和定量校準獲得TPD光譜。

    更新時間:2024-12-10型號:TDS1000訪問量:694
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  • LK1000M美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍
    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍

    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍 LK1000M 具有出色能量分辨率的電子源,針對高輸出電流進行了優(yōu)化應用于逆UPS,EELS等電子碰撞實驗。

    更新時間:2024-12-10型號:LK1000M訪問量:719
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  • MINICMA™美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀
    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀

    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™ 對固體表面進行微區(qū)成份分析及元素分布??蓱糜诎雽w材料、冶金、地質(zhì)等部門。

    更新時間:2024-12-10型號:MINICMA™訪問量:556
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  • ELS3000美國 IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀
    美國 IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀

    美國 IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀 ELS3000 俄歇電子能譜(Auger electron spectroscopy,簡稱AES),是一種利用高能電子束為激發(fā)源的表面科學和材料科學的分析技術(shù)。

    更新時間:2024-12-10型號:ELS3000訪問量:1217
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  • RVL2000LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)
    LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)

    LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)-RVL2000 的精密反向LEED低能電子衍射儀光學元件采用所有UHV結(jié)構(gòu),無需使用玻璃纖維或聚合物涂層線束。提供完整系列的型號和選件,包括低電流(nA,pA)MCP型號。

    更新時間:2024-12-10型號:RVL2000訪問量:1033
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  • ELS5000IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀
    IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀

    美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號水平方面表的

    更新時間:2024-12-10型號:ELS5000訪問量:615
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  • LOTIS® QC-80美國QUEST(QI2)乙烯爐管檢測
    美國QUEST(QI2)乙烯爐管檢測

    美國QUEST(QI2)乙烯爐管檢測LOTIS® QC-80,非接觸式測量系統(tǒng) 使用*非接觸式激光光學三角測量,可為管狀結(jié)構(gòu)提供快速掃描和高分辨率數(shù)據(jù)。在一次掃描中,我們的專有軟件自動準確地定位尺寸質(zhì)量以及表面缺陷。

    更新時間:2024-12-10型號:LOTIS® QC-80訪問量:573
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